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機器訪問利用

集束イオンビーム装置(FIB/FIB-SEM)

東京都

料金

価格は相談により決定 

※別途、サービス料がかかります。
※サービスには、システム利用および損害賠償保険が含まれます。
※取引条件によって、料金が変わります。

概要

集束したイオンビームを試料に照射し、加工や観察を行うことができる装置です。(https://www.jaima.or.jp/jp/analytical/basic/em/fib/)

詳細・スペック

※提供機関により条件が異なりますのでご相談ください。

可能な実験例

用途例

備考

※提供組織の状況によりご要望に添えない場合がございます。まずはご相談ください。

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