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機器訪問利用

電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)

東京都

料金

価格は相談により決定 

※別途、サービス料がかかります。
※サービスには、システム利用および損害賠償保険が含まれます。
※取引条件によって、料金が変わります。

概要

細く絞った電子線で試料表面を2次元的に走査し、その際に出てくる2次電子信号から、材質の違いや表面の凹凸などを像として表示することができます。

詳細・スペック

※提供機関により条件が異なりますのでご相談ください。

可能な実験例

用途例

備考

※提供組織の状況によりご要望に添えない場合がございます。まずはご相談ください。

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