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機器訪問利用

走査型電子顕微鏡(SEM)

東京都

料金

価格は相談により決定 

※別途、サービス料がかかります。
※サービスには、システム利用および損害賠償保険が含まれます。
※取引条件によって、料金が変わります。

概要

電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子(後方散乱電子、BSE)、透過電子、X線、カソードルミネッセンス(蛍光)、内部起電力等を検出する事で対象を観察出来る装置です。

詳細・スペック

※提供機関により条件が異なりますのでご相談ください。

可能な実験例

用途例

備考

※提供組織の状況によりご要望に添えない場合がございます。まずはご相談ください。

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