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機器訪問利用

FIB-SEMデュアルビーム加工観察装置

東京都

料金

価格は相談により決定 

※別途、サービス料がかかります。
※サービスには、システム利用および損害賠償保険が含まれます。
※取引条件によって、料金が変わります。

概要 TEM用試料の自動加工およびメッシュへの移動が可能です。
詳細・スペック ※提供機関により条件が異なりますのでご相談ください。
可能な実験例
用途例
備考 ※提供組織の状況によりご要望に添えない場合がございます。まずはご相談ください。
キーワード
分野 材料化学

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