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  • 機器訪問利用低真空走査電子顕微鏡

    location_on東京都

    Thumb ad606bde c134 48e0 905f 825d31845b58

    低真空モードに設定することで、熱電子線源から生じた電子線を試料に照射し、試...

    ※提供機関により条件が異なりますのでご相談ください。

    価格は相談により決定

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  • 機器訪問利用電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)

    location_on東京都

    Thumb a5659dd2 6a33 4614 bfa8 b8e987ed3914

    細く絞った電子線で試料表面を2次元的に走査し、その際に出てくる2次電子信号...

    ※提供機関により条件が異なりますのでご相談ください。

    価格は相談により決定

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  • 機器訪問利用電界放出型走査電子顕微鏡

    location_on宮城県

    Thumb cef3c061 fbc3 41a6 bb7a 483a25280b24

    型番:日本電子 JSM-7800F

    この走査電子顕微鏡は、スーパーハイブリッドレンズの照射系により高い分解能観...

    分解能は、加速電圧0.1kV~30kVで分解能3.0~0.8nm以下、スーパーハイブリッドレンズの採用により磁性材料の観察可能。EDS分析、EBSD分析(極点図・逆極点図)、大気非暴露試料保持対策、低真空観察ユニッ...

    ¥6,621 /時間

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  • 機器訪問利用イオンコーター

    location_on千葉県

    Thumb a7926bbf 204b 4379 b1bd cadbfe6c04c1

    走査電子顕微鏡観察をする場合に、導電性のない試料を観察する際の帯電障害(チ...

    ※提供機関により条件が異なりますのでご相談ください。

    価格は相談により決定

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  • 機器訪問利用プローバ

    location_on東京都

    Thumb 0b4663e4 94ea 41ff 8a8d 8482941cd3b5

    半導体デバイスの配線・電極やナノカーボン材料他の新材料に直接プローブを接触...

    ※提供機関により条件が異なりますのでご相談ください。

    価格は相談により決定

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  • 機器訪問利用プローバ

    location_on茨城県

    Thumb 75a6c4d6 20b8 4950 9ca5 1f72424d6c3d

    半導体デバイスの配線・電極やナノカーボン材料他の新材料に直接プローブを接触...

    ※提供組織により条件が異なりますのでご相談ください。

    価格は相談により決定

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