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(921-927)

« 最初

  • 機器訪問利用多機能走査型X線電子分光分析装置

    location_on宮城県

    Thumb 00016f93 af71 44c5 a6b4 3611e7e61e45

    型番：アルバック・ファイ　ＰＨＩ-5000ＶｅｒｓａＰｒｏｂｅⅡ-TSS

    表面深さ～10nmから放出される光電子スペクトルを測定し、表面の組成ならび...

    ・ 走査型X線源によりビーム径は、10μm～200μm の間で設定可能。
    ・ Scanning Xray Image のその場観察により、より正確、迅速な分析位置の決定が可能。
    ・ 低エネルギー電子とイオン同時...

    ￥9,178 〜 /時間

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  • 機器訪問利用電界放出型電子プローブマイクロアナライザ

    location_on宮城県

    Thumb 203da9be fa28 4cff 923a cc16f286348e

    型番：日本電子　ＪＸＡ-8530Ｆ

    試料の特性Ｘ線の波長や強度、二次電子や反射電子量を測定して試料の構成元素や...

    電子像観察、定性分析、定量分析、元素分布観察、定量マッピング、相分析
    ・ 加速電圧： 1～30ｋV、二次電子分解能：3nm、倍率：×40～×300,000
    ・ 分析元素範囲：　B～U 、X線分光範囲WDS：　0...

    ￥7,326 〜 /時間

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  • 機器訪問利用FIB/SEM デュアルビームシステム

    location_on宮城県

    Thumb c39f656e a873 4048 887c 835c777e87cc

    型番：Helios NanoLabTM 600i

    ナノスケールの微細加工、観察、分析、透過電子顕微鏡用試料作製ができる。 ...

    ・ FIB加工過程をSEMにてリアルタイムで観察可能。
    ・ TEM試料作製及びアトムプローブ試料作製が可能。
    ・ 自動機能にて、FIBスライス加工。
    ・ 同一視野での、SEM画像取得（EBSD,EDS測定含む...

    ￥19,239 〜 /時間

    詳細を見る

  • 機器訪問利用全自動水平型多目的X線回折装置

    location_on宮城県

    Thumb d65a72a2 c3ea 4e63 b267 7591803df0ab

    型番：リガク　SmartLab 3G

    薄膜試料、粉末試料、バルク試料の定量分析、構造評価ができる。

    ・X線発生部：最大定格出力：３kW , ターゲット(Cu,Co)
    ・ゴニオメータ部：試料水平配置型θ－θゴニオメータ
    ・試料台回転アタッチメント（ナイフエッジ付）：β軸±360°　スピン速度1～120rpm　
    ...

    ￥5,655 〜 /時間

    詳細を見る

  • 機器訪問利用ホログラフィー電子顕微鏡

    location_on埼玉県

    Thumb 2b7a40d9 4c8c 4a98 a708 54552dd45544

    型番：特注品で型番なし

    電子加速電圧:350kV 最高分解能：200pm

    電子線ホログラフィ―機能
    高分解能観察ステージ（分解能～200pm ）、
    磁場フリー観察（＜～100mT）

    ￥3,000 〜 /時間

    詳細を見る

  • 機器訪問利用超高圧ホログラフィー電子顕微鏡

    location_on埼玉県

    Thumb 462189fb 2ca9 44cd bfb7 cb282daedcbb

    型番：H-1000FT

    電子加速電圧:1MV 最高分解能：120pm

    電子線ホログラフィ―機能
    高分解能観察ステージ（分解能～120pm ）、
    磁場フリー観察ステージ
    磁場印加（～500mT）
    液体He冷却

    ￥10,000 〜 /時間

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  • 機器訪問利用原子分解能・ホログラフィー電子顕微鏡

    location_on埼玉県

    Thumb d87d28f4 9b4f 43fc 92c6 1b8c0f95846a

    型番：特注品で型番なし

    電子加速電圧:1.2MV 最高分解能：43pm 球面収差補正器装備

    電子線ホログラフィ―機能
    高分解能観察ステージ（最高分解能43pm ）、
    磁場フリー観察ステージ（分解能～235pm)
    磁場印加（～500mT）
    液体He冷却

    ￥20,000 〜 /時間

    詳細を見る

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