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1624

(1611-1620)

  • 機器訪問利用固体900MHzJEOL3重共鳴プローブ

    location_on神奈川県

    Thumb e1e20753 0f1a 492b 9360 e76a0862ee0f

    型番:型式不明

    (1H, 13C, 15N) MAS径2.5mm MAS回転数24kHz

    多核種 MAS径3.2mm MAS回転数20kHz

    ¥10,700 /時間

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  • 機器訪問利用親水化処理機能付きカーボンコータ

    location_on宮城県

    Thumb ce49edb2 dab0 482e 88e8 1edb3b46d79e

    型番:メイワフォーシス製 CADE-E

    10万倍の高倍率でもチャージアップせず観察可能

    ・試料台寸法:φ80mm
    ・照明・窓:UVカット仕様
    ・コート時間:1.7秒
    ・放電時間:15秒

    価格は相談により決定

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  • 機器訪問利用クロスセクションポリッシャ

    location_on宮城県

    Thumb 61621ff5 56bb 49a6 866c 1611f36f75f3

    型番:日本電子(株)製 IB-09010CP

    SEM用断面試料作製装置/アルゴンイオンを用いて柔らかい試料、硬い試料、脆...

    イオン加速電圧6kV,試料冷却-120℃可能、加工観察用カメラ付き、大気非暴露型試料断面加工装置
    (専用のトランスファーベッセルを使用することで、断面加工表面を大気にさらさないで、JSM-7800Fにて観察できる)

    ¥3,566 /時間

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  • 機器訪問利用顕微可視赤外分光システム

    location_on宮城県

    Thumb 07c10382 e673 4732 be91 64a2abcf7278

    型番:東京インスツルメント  NX-FILM-TO3

    非破壊、非接触による化合物半導体の組成評価、欠陥評価、量子井戸の評価、不純...

    本システムは、時間分解発光測定用ストリークカメラ(1000-1650nm)と励起用レーザ(635nm)を用いて発光分光測定、ストリークカメラ使用した時間蛍光測定寿命を可能とする装置でかつ試料を冷却して測定可能。

    ¥4,168 /時間

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  • 機器訪問利用サーマルクリーンチャンバー

    location_on宮城県

    Thumb 6e613a7f 5a25 4c87 939c 856e24ef1919

    型番:日本エアーテック TCC-603523A4S3

    温度変化による伸縮や位置精度を必要とする設備、微細測定機器などの設備にクリ...

    用途
    半導体製造、精密加工、精密測定器                         
    仕様
    ・室内有効内面積:5100(W)×3350(D)×2230(H)
    ・照明・窓:UVカット仕様
    ・洗浄度:IS...

    ¥8,095 /時間

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  • 機器訪問利用微小結晶構造解析装置

    location_on宮城県

    Thumb e6675c99 d888 4f2f 8160 7377f3e51959

    型番:リガク ValiMax DW with IP

    精密構造解析、金属、酸化物はもとより、タンパク質結晶などの構造解析ができる。 

    ・X線発生部:最大定格出力:1.2kW(実効焦点サイズ φ0.07mm)、ターゲット:2色管球(Cu・Mo) 
    ・ゴニオメータ部:測定範囲:2θ=-60~+144°
    ・光学系部:2色(Cu,Mo)対応共焦点直交...

    ¥6,169 /時間

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  • 機器訪問利用電界放出型走査電子顕微鏡

    location_on宮城県

    Thumb cef3c061 fbc3 41a6 bb7a 483a25280b24

    型番:日本電子 JSM-7800F

    この走査電子顕微鏡は、スーパーハイブリッドレンズの照射系により高い分解能観...

    分解能は、加速電圧0.1kV~30kVで分解能3.0~0.8nm以下、スーパーハイブリッドレンズの採用により磁性材料の観察可能。EDS分析、EBSD分析(極点図・逆極点図)、大気非暴露試料保持対策、低真空観察ユニッ...

    ¥6,621 /時間

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  • 機器訪問利用多機能走査型X線電子分光分析装置

    location_on宮城県

    Thumb 00016f93 af71 44c5 a6b4 3611e7e61e45

    型番:アルバック・ファイ PHI-5000VersaProbeⅡ-TSS

    表面深さ~10nmから放出される光電子スペクトルを測定し、表面の組成ならび...

    ・ 走査型X線源によりビーム径は、10μm~200μm の間で設定可能。
    ・ Scanning Xray Image のその場観察により、より正確、迅速な分析位置の決定が可能。
    ・ 低エネルギー電子とイオン同時...

    ¥9,178 /時間

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  • 機器訪問利用電界放出型電子プローブマイクロアナライザ

    location_on宮城県

    Thumb 203da9be fa28 4cff 923a cc16f286348e

    型番:日本電子 JXA-8530F

    試料の特性X線の波長や強度、二次電子や反射電子量を測定して試料の構成元素や...

    電子像観察、定性分析、定量分析、元素分布観察、定量マッピング、相分析
    ・ 加速電圧: 1~30kV、二次電子分解能:3nm、倍率:×40~×300,000
    ・ 分析元素範囲: B~U 、X線分光範囲WDS: 0...

    ¥7,326 /時間

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  • 機器訪問利用FIB/SEM デュアルビームシステム

    location_on宮城県

    Thumb c39f656e a873 4048 887c 835c777e87cc

    型番:Helios NanoLabTM 600i

    ナノスケールの微細加工、観察、分析、透過電子顕微鏡用試料作製ができる。 ...

    ・ FIB加工過程をSEMにてリアルタイムで観察可能。
    ・ TEM試料作製及びアトムプローブ試料作製が可能。
    ・ 自動機能にて、FIBスライス加工。
    ・ 同一視野での、SEM画像取得(EBSD,EDS測定含む...

    ¥19,239 /時間

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