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1707

(1701-1707)

  • 機器訪問利用多機能走査型X線電子分光分析装置

    location_on宮城県

    Thumb 00016f93 af71 44c5 a6b4 3611e7e61e45

    型番:アルバック・ファイ PHI-5000VersaProbeⅡ-TSS

    表面深さ~10nmから放出される光電子スペクトルを測定し、表面の組成ならび...

    ・ 走査型X線源によりビーム径は、10μm~200μm の間で設定可能。
    ・ Scanning Xray Image のその場観察により、より正確、迅速な分析位置の決定が可能。
    ・ 低エネルギー電子とイオン同時...

    ¥9,178 /時間

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  • 機器訪問利用電界放出型電子プローブマイクロアナライザ

    location_on宮城県

    Thumb 203da9be fa28 4cff 923a cc16f286348e

    型番:日本電子 JXA-8530F

    試料の特性X線の波長や強度、二次電子や反射電子量を測定して試料の構成元素や...

    電子像観察、定性分析、定量分析、元素分布観察、定量マッピング、相分析
    ・ 加速電圧: 1~30kV、二次電子分解能:3nm、倍率:×40~×300,000
    ・ 分析元素範囲: B~U 、X線分光範囲WDS: 0...

    ¥7,326 /時間

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  • 機器訪問利用FIB/SEM デュアルビームシステム

    location_on宮城県

    Thumb c39f656e a873 4048 887c 835c777e87cc

    型番:Helios NanoLabTM 600i

    ナノスケールの微細加工、観察、分析、透過電子顕微鏡用試料作製ができる。 ...

    ・ FIB加工過程をSEMにてリアルタイムで観察可能。
    ・ TEM試料作製及びアトムプローブ試料作製が可能。
    ・ 自動機能にて、FIBスライス加工。
    ・ 同一視野での、SEM画像取得(EBSD,EDS測定含む...

    ¥19,239 /時間

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  • 機器訪問利用全自動水平型多目的X線回折装置

    location_on宮城県

    Thumb d65a72a2 c3ea 4e63 b267 7591803df0ab

    型番:リガク SmartLab 3G

    薄膜試料、粉末試料、バルク試料の定量分析、構造評価ができる。

    ・X線発生部:最大定格出力:3kW , ターゲット(Cu,Co)
    ・ゴニオメータ部:試料水平配置型θ-θゴニオメータ
    ・試料台回転アタッチメント(ナイフエッジ付):β軸±360° スピン速度1~120rpm 
    ...

    ¥5,655 /時間

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  • 機器訪問利用ホログラフィー電子顕微鏡

    location_on埼玉県

    Thumb 2b7a40d9 4c8c 4a98 a708 54552dd45544

    型番:特注品で型番なし

    電子加速電圧:350kV 最高分解能:200pm

    電子線ホログラフィ―機能
    高分解能観察ステージ(分解能~200pm )、
    磁場フリー観察(<~100mT)

    ¥3,000 /時間

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  • 機器訪問利用超高圧ホログラフィー電子顕微鏡

    location_on埼玉県

    Thumb 462189fb 2ca9 44cd bfb7 cb282daedcbb

    型番:H-1000FT

    電子加速電圧:1MV 最高分解能:120pm

    電子線ホログラフィ―機能
    高分解能観察ステージ(分解能~120pm )、
    磁場フリー観察ステージ
    磁場印加(~500mT)
    液体He冷却

    ¥10,000 /時間

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  • 機器訪問利用原子分解能・ホログラフィー電子顕微鏡

    location_on埼玉県

    Thumb d87d28f4 9b4f 43fc 92c6 1b8c0f95846a

    型番:特注品で型番なし

    電子加速電圧:1.2MV 最高分解能:43pm 球面収差補正器装備

    電子線ホログラフィ―機能
    高分解能観察ステージ(最高分解能43pm )、
    磁場フリー観察ステージ(分解能~235pm)
    磁場印加(~500mT)
    液体He冷却

    ¥20,000 /時間

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(1701-1707)

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