サーマル電界放出形走査電子顕微鏡

詳細・スペック

詳細・スペック

●真空中において、高性能電子光学系より一点集束発生させた電子ビームを試料へ照射し、試料から発生した信号を検出することで観察する走査型電子顕微鏡です。3つの検出器により、試料表面の凹凸情報の取得、試料を構成する物質の組成情報の取得が可能です。生体試料における分解能は最大数十nmと高く、ウイルスから組織内の微細構造まで幅広く観察可能ですオプションとして、エネルギー分散型X線分析装置（JED-2300を搭載しており、定性的な元素分析や元素分布の検出もできます。また、クライオトランスファーシステム(ALTO2500)を用いて、含水試料や熱に弱い試料を低温条件(-180℃)にて観察することがも可能です。

●料金
成果公開　　　　10,000円/時間
成果非公開　　　12,000円/時間

場所・アクセス

契約形態

備考

広島市南区霞一丁目2番3号 霞 総合研究棟122号室

その他

本装置の委託分析/訪問利用は、文部科学省：先端研究基盤共用促進事業（共用プラットフォーム形成支援プログラム）原子・分子の顕微イメージングプラットフォームの利用課題として実施します。
※ご要望条件に添えないことも想定されますので、まずはご相談下さい。
・料金は平成31年4月1日現在のものです。
・受け付ける課題は原則として全て有償です。
・試料調製に必要な費用、関連する研究費・実験費等、利用に伴う旅費等は上記料金に含みません。

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