委託
産学連携

サーマル電界放出形走査電子顕微鏡

詳細・スペック

詳細・スペック

●真空中において、高性能電子光学系より一点集束発生させた電子ビームを試料へ照射し、試料から発生した信号を検出することで観察する走査型電子顕微鏡です。3つの検出器により、試料表面の凹凸情報の取得、試料を構成する物質の組成情報の取得が可能です。生体試料における分解能は最大数十nmと高く、ウイルスから組織内の微細構造まで幅広く観察可能ですオプションとして、エネルギー分散型X線分析装置(JED-2300を搭載しており、定性的な元素分析や元素分布の検出もできます。また、クライオトランスファーシステム(ALTO2500)を用いて、含水試料や熱に弱い試料を低温条件(-180℃)にて観察することがも可能です。

●料金

成果公開    10,000円/時間

成果非公開   12,000円/時間

契約形態
備考

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