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茨城県

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エリプソメーター

エリプソメーターの画像1

Ic equipment spec

概要：物質表面での光の入反射光の偏光状態の変化を測定し、薄膜の厚さ、屈折率や吸収係数などの光学定数、または、バルク材の光学定数を解析することができる装置です。非接触･非破壊にて測定が行えます。（http://www.5lab.co.jp/products_MARY.htm）

詳細・スペック

詳細・スペック: ※提供組織により条件が異なりますのでご相談ください。

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