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走査電子顕微鏡（SEM-EDS）による表面形状観察・元素マッピング解析

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走査電子顕微鏡（SEM-EDS）による表面形状観察・元素マッピング解析

走査電子顕微鏡（SEM-EDS）による表面形状観察・元素マッピング解析の画像1

Ic equipment spec

概要：10000倍程度まで拡大可能な電子顕微鏡（SEM）で、表面形状観察を行います。元素組成の定性・定量分析（EDX）が可能で、金属・電気部品、食品・医薬品などの材料確認や異物・不良解析に利用可能です。

#SEM #SEM-EDS #表面分析

詳細・スペック

用途例: 薄膜・金属等の材料研究、細胞や組織などの生物サンプルの解析など

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