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産学連携

走査電子顕微鏡（SEM-EDS）による表面形状観察・元素マッピング解析

走査電子顕微鏡（SEM-EDS）による表面形状観察・元素マッピング解析の画像1
  • Ic equipment spec 概要：10000倍程度まで拡大可能な電子顕微鏡（SEM）で、表面形状観察を行います。元素組成の定性・定量分析（EDX）が可能で、金属・電気部品、食品・医薬品などの材料確認や異物・不良解析に利用可能です。
    • #SEM #SEM-EDS #表面分析

    詳細・スペック

    契約形態
    備考
    受託研究契約
    単結晶用X線回折測定による試料の構造解析
    粉末X線回折測定による結晶性粉体試料の構造推定や結晶子サイズの同定
    メスバウアー分光による鉄化合物の試料推定、酸化状態、電子状態の同定など
    走査電子顕微鏡（SEM-EDS）による表面形状観察・元素マッピング解析
    ESRによる試料分析
    表面積・細孔分布測定装置
    NMRによる試料分析
    固体拡散反射スペクトルによる試料分析
    FT-IRによる試料分析
    レーザーRamanによる試料分析と物性測定
    TG-DTAによる物質の熱重量分析（融解・昇華・分解、酸化反応、相転移など）
    DSCによる物質の熱量分析（融解・昇華・分解、酸化反応、相転移など）
    CVによる物質の電気化学（酸化還元反応）測定
    発光光度計による物質の発光スペクトル解析
    電気炉による物質の焼成（セラミックスの合成）など
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    用途例
    薄膜・金属等の材料研究、細胞や組織などの生物サンプルの解析など

    Ic equipment price 目安単価：

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