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産学連携

ホール効果測定のコンサルタントと共同研究

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  • Ic equipment spec 概要：1.半導体のホール効果測定（測定温度：20 Kから1060 K） ・抵抗率の温度依存性・多数キャリア密度の温度依存性・多数キャリアの移動度の温度依存性 2.多数キャリア密度の温度依存性からの解析・評価（FCCS法） ・ドーパント(ドナー、アクセプタ)の密度とエネルギー準位の評価 ・多数キャリア密度に影響を及ぼす欠陥の密度とエネルギー準位の評価 3.半導体の伝導機構の検討
    • #ホール効果 #半導体

    詳細・スペック

    おすすめポイント
    試験方法の要望対応可能
    試験計画の立案可能
    半導体工学の専門家によるアドバイスや共同研究が可能
    契約形態
    契約備考
    その他
    受託事業契約
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    用途例
    半導体開発

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