検索結果：機器訪問利用カテゴリ「データ」（17件）
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東京都
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機器訪問利用
観察対象に電子線をあて、透過した電子線の強弱から観察対象内の電子透過率の空間分布を観察する装置です。
可能な実験例
〇生体組織や無機マテリアルの微細構造評価
TEMの非常に高い倍率，分解能という特性から，原子レベルでの観察がおこなえます。そのため，光学顕微鏡では観察が困難な，似て非なる構造も捉えることができます。
〇免疫標識による生物のタンパク質局在解析
目的の探索物質に反応する抗体で標識することで，微細構造上でタンパク質などの探索物質の局在を観察することができます。抗体反応を色で観察することはできないため，金コロイドなどで標識する必要があります。
〇固体の結晶構造解析
試料に電子線を当てたときの回析パターンから，結晶構造を推測，決定することができます。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
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茨城県
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機器訪問利用
観察対象物に対して前処理が一切不要で、そのままの状態での観察・測定が可能です。観察視野全てに焦点が合った超深度画像での観察が可能で、短波長レーザと白色光源を併用することで、高解像度と色情報を両立した高精細リアルカラー超深度画像での観察が可能です。非接触なので様々な対象物に対応するうえ、観察視野...
可能な実験例
○半導体の測定
デバイスの性能を左右する静電ミラーアレイ用電極基盤の3次元形状測定や、透明なマイクロレンズでも、表面の僅かな反射率を検出できるので測定可能です。
○電子部品の評価
フレキシブル基盤のコネクタ部分のラッチ部の形状や、接続時の状態を正確に測定できるので、電子機器の信頼性を評価することができます。
○機能性素材の測定
塗料や粘着テープのように粘性があるもの、繊維などの軟性があるもの、ゴムなどのように弾性があるものでも非接触での表面測定が可能です。
○細胞内物質の挙動観察（医学・生理学用）
一つの細胞内物質が刺激を受けた時に、他の細胞内物質がどう挙動するかを観察することができます。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
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茨城県
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機器訪問利用
紫外領域と可視領域の光の領域を用いて溶液の吸収スペクトルを測定し定量分析います。
可能な実験例
◯物質の透過率の測定
物質の透過を測定し、物質の量（濃度や膜厚）から透過率を算出することができます。
◯物質の反射率の測定
試料ステージに反射測定用ユニットを設置することで、物質の反射率を測定することができます。
◯物質の吸光度、バンドギャップの算出
物質の透過率、反射率から、物質の特定波長における吸光度が算出されます（透過測定が振り切っていない場合のみ）。またピークの立ち上がり波長からバンドギャップが算出されます。
◯物質のキャリアの確認
物質がキャリアを持つ場合には、物質の透過スペクトルにおける概ね700nmから長波長側に吸収が見られます。
◯特定物質の定性、定量分析
測定対象物質があらかじめわかっている場合は、吸収ピーク波長のシフトや濃度といった情報が得られます。
〇その他
偏光子をもちいることで、物質の光応答性に関する異方性の情報が得られます。配向結晶などに対して計測することで、結晶軸による光応答性の違いがわかります。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
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茨城県
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機器訪問利用
SEM(走査型電子顕微鏡)にEDX(エネルギー分散型X線分析装置)を装備しており、観察領域における組成分析・元素マッピングができます。
可能な実験例
○部品の破損原因の特定
劣化して破損してしまった部品を表面分析することにより、本来部品に含まれていない成分などの有無を調べ、外的要因がないかどうかを判断することができます。
○金属中の変色調査
変色してしまった金属製品を測定しマッピング分析をすることにより、変色箇所に含まれる成分を特定することができます。
○無機物質の大まかな材料判定
未知の無機物質を測定し、標準試料のデータと照らし合わせることで無機物質の大まかな材料判定をすることができます。
○電子基板上の微小異物の分析
電子基板上に発生した微小異物の元素分析をすることにより、有機物か無機物かを判別することができます。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
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茨城県
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機器訪問利用
化合物の同定・定量分析や、結晶構造の解析を行うことができます。
可能な実験例
試料の定性・定量分析・相同定
粉末X線回折法により得られた回折パターンを、既知物質の回折パターンと比較することで試料の定性・定量分析や相同定をすることができます。
格子定数・イオン半径・原子座標位置の算出
粉末X線回折法により得られた回折パターンのフィッテングを行うことで、試料の格子定数・イオン半径・原子座標位置を算出することができます。
分子の三次元構造の決定
単結晶X線回折法により得られた回折パターンから、分子の三次元構造を決定することができます。
試料の格子歪・残留応力の測定
X線回折法により得られた回折パターンから、ピーク位置のずれや幅を測定することで試料の格子歪・残留応力の算出をすることができます。
結晶方位の測定
試料に照射するX線の角度を変化させながら、任意の結晶方位の回折ピークを測定することで試料の結晶方位を測定することができます。
結晶配向性の測定
特定のピーク位置における回折強度分布を測定することで、結晶の配向性を測定することができます。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
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