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検索結果:機器訪問利用カテゴリ「分析装置」(13件)

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    透過型電子顕微鏡(TEM):JEM-2100F

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    形態観察、結晶構造解析、元素分析

    電子顕微鏡は、光の代わりに電子(電子線)をあてて拡大する顕微鏡のことです。観察物質の構造や構成成分の違いにより電子線の透過能が異なるので、場所による透過電子の密度の違いを透過顕微鏡像として得ます。透過型電子顕微鏡では、極薄い試料を用いますが、数十万倍にも拡大した像を得ることができます。さらに、原子の周期的な配列に対応した回折現象を利用して、電子回折像が得られます。これは、物質(試料)の性質、特に結晶構造や格子欠陥に関わる重要な情報です。

    可能な実験例

    形態観察、結晶構造解析、元素分析

    • Ic pin 東京都
    • 機器訪問利用

    LC-MS/MS

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    液体クロマトグラフ(LC)により分離した試料を専用のインターフェース(イオン源)を介してイオン化し、生成するイオンを質量分析計(MS)で分離して特定の質量イオンを解離・フラグメント化させ、それらのイオンを質量分析計で検出することができる分析装置です。(https://www.ktr.co.jp...

    • Ic pin 茨城県
    • 機器訪問利用

    EDX(SEM-EDX)

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    SEM(走査型電子顕微鏡)にEDX(エネルギー分散型X線分析装置)を装備しており、観察領域における組成分析・元素マッピングができます。

    可能な実験例

    ○部品の破損原因の特定

    劣化して破損してしまった部品を表面分析することにより、本来部品に含まれていない成分などの有無を調べ、外的要因がないかどうかを判断することができます。

    ○金属中の変色調査

    変色してしまった金属製品を測定しマッピング分析をすることにより、変色箇所に含まれる成分を特定することができます。

    ○無機物質の大まかな材料判定

    未知の無機物質を測定し、標準試料のデータと照らし合わせることで無機物質の大まかな材料判定をすることができます。

    ○電子基板上の微小異物の分析

    電子基板上に発生した微小異物の元素分析をすることにより、有機物か無機物かを判別することができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

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