検索結果：機器訪問利用カテゴリ「-」（56件）

◯物質の透過率の測定

物質の透過を測定し、物質の量（濃度や膜厚）から透過率を算出することができます。

◯物質の反射率の測定

試料ステージに反射測定用ユニットを設置することで、物質の反射率を測定することができます。

◯物質の吸光度、バンドギャップの算出

物質の透過率、反射率から、物質の特定波長における吸光度が算出されます（透過測定が振り切っていない場合のみ）。またピークの立ち上がり波長からバンドギャップが算出されます。

◯物質のキャリアの確認

物質がキャリアを持つ場合には、物質の透過スペクトルにおける概ね700nmから長波長側に吸収が見られます。

◯特定物質の定性、定量分析

測定対象物質があらかじめわかっている場合は、吸収ピーク波長のシフトや濃度といった情報が得られます。

〇その他

偏光子をもちいることで、物質の光応答性に関する異方性の情報が得られます。配向結晶などに対して計測することで、結晶軸による光応答性の違いがわかります。

※組織により上記実験ができない場合がございます。

○部品の破損原因の特定

劣化して破損してしまった部品を表面分析することにより、本来部品に含まれていない成分などの有無を調べ、外的要因がないかどうかを判断することができます。

○金属中の変色調査

変色してしまった金属製品を測定しマッピング分析をすることにより、変色箇所に含まれる成分を特定することができます。

○無機物質の大まかな材料判定

未知の無機物質を測定し、標準試料のデータと照らし合わせることで無機物質の大まかな材料判定をすることができます。

○電子基板上の微小異物の分析

電子基板上に発生した微小異物の元素分析をすることにより、有機物か無機物かを判別することができます。

※組織により上記実験ができない場合がございます。

・微細加工の実態状況や不良分析
・化合物の状態分析/評価
・微小形状測定、表面粗さ測定
など

・室温、大気圧下での形状測定
・接触または非接触測定

測定チャンバー内を真空に引いたり、試料台を冷却、加熱して測定することが可能です。

・微細加工の実態状況や不良分析
・化合物の状態分析/評価
微小形状測定、表面粗さ測定
など

・室温、大気圧下での形状測定
・接触または非接触測定

グランドプレーン付きシールドルームで静電気等のEMC試験が実施可能

ISO10605 /IEC 61000-4-2準拠の静電気試験
LFアンテナの特性評価
最終試験前のプリテスト検討用としてご使用ください。

ISO10605 /IEC 61000-4-2準拠の静電気試験
LFアンテナの特性評価
最終試験前のプリテスト検討用としてご使用ください。

ISO10605 /IEC 61000-4-2準拠の静電気試験が実施可能
グランドプレーン付きシールドルームで行っていただきます。

ISO10605 /IEC 61000-4-2準拠の静電気試験
最終試験前のプリテスト検討用としてご使用ください。

ISO10605 /IEC 61000-4-2準拠の静電気試験
最終試験前のプリテスト検討用としてご使用ください。

ISO7637-2、7637-3、16750-2、カーメーカ規格の電源変動、サージ試験が実施可能

ISO7637-2、7637-3、16750-2、カーメーカ規格の電源変動、サージ試験
最終試験前のプリテスト検討用としてご使用ください。

ISO7637-2、7637-3、16750-2、カーメーカ規格の電源変動、サージ試験
最終試験前のプリテスト検討用としてご使用ください。

＜主性能（能力範囲）＞
温度範囲：-40～+100℃
槽内寸法：W1150×D700×H700[mm]
開口部寸法(配線等出入り口)　Φ100㎜×2
安全増し装備：水素ガス検知、槽内圧検知

・高温試験
・低温試験
・温度サイクル試験

・第2のラボとして！
・研究プロジェクトを始める前の予備実験などに！
・自社で行えないサイドプロジェクトを行う場としての使用

各温度域での温度ストレスによる製品特性、物性の劣化評価

＜主性能（能力範囲）＞
温度範囲：(外周温度+20)℃～200℃
槽内寸法：W800×D800×H1200[mm]
開口部寸法(配線等出入り口)　Φ100㎜×4

・高温放置試験
・高温作動試験
・熱処理

・第2のラボとして！
・研究プロジェクトを始める前の予備実験などに！
・自社で行えないサイドプロジェクトを行う場としての使用

高温度域での温度ストレスによる製品特性、物性の劣化評価