分析項目:臭素(Br),塩素(Cl),フッ素(F),ヨウ素(I) 分析方法(測定機器):EN14582(IC) 下限値:50ppm 分析サンプル量:30g ISO17025認証取得ラボでの分析となります
10000倍程度まで拡大可能な電子顕微鏡(SEM)で、表面形状観察を行います。元素組成の定性・定量分析(EDX)が可能で、金属・電気部品、食品・医薬品などの材料確認や異物・不良解析に利用可能です。
試料を構成している元素間の振動や回転についての情報を得ることで、試料の構造推定や定性分析に利用できます。粉末試料をKBrと混合してペレット化したサンプルを透過法で測定します。有機物から無機物までの幅広い機能性材料の研究開発に利用できる装置です。測定可能範囲は400から8000cm-1です。AT...
ナノエレクトロニクス、ナノマテリアル合成、微細加工、デバイス作製や、最先端機器を利用した計測を行うことができます。スーパークリーンルーム、バイオ系実験用クリーンルームを完備し、最先端機器であるTEMやEB描画装置等の装置を多数完備し、合成からバイオ実験までを一気通貫で行うことができます。
・機器の持ち込み可能
・廃液処理対応も可能
・委託実験については要相談
・技術指導については要相談
・居室有
・最先端機器(TEM、SEM)や、デバイス作製用クリーンルーム、バイオ実験室完備
・バイオセンサ開発
・マイクロ流路作製
・電子デバイス作製
・電子線描画装置によるレジストパーターン作製
・FIBを利用したTEM用薄膜作製
・コバルト内包カーボンナノアニオンのTEM像と制限視野回折観察
・空中配線された量子ドットを有するナノ電子デバイスのSEM観察
・デオキシリボ核酸(DNA)のAFM観察
・CMCマグネティックナノ粒子のFT-IR分析
・単層CNTのラマンマッピング
・量子ドットの励起蛍光すペクトル(NIR-PLE)
・XPSによるグラフェン構造の評価
・オージェ電子分光による酸化グラフェンの薄膜依存性
・飛行時間型二次イオン質量分析装置によるSiとO元素の深さ方向分布
・超電導材料の磁気特性(SQUID/VSM)測定
・硫酸銅のTG-DTA曲線
・カーボン材料の窒素ガス吸脱等温線(比表面積細孔分布計測)
・核およびアクチンフィラメントを蛍光染色した食道がん細胞の共焦点レーザー顕微鏡観察
・アポトーシスを起こしたJurket Cellsの蛍光染(セルソータ)
・ポリイプシロンカプロラクトンのMALDI-TOF-MSによる構造解析