【異物・不良解析】走査電子顕微鏡（SEM-EDS）による表面形状観察・元素マッピング解析

詳細・スペック

備考

納期目安

・　まずは希望試験内容についてご相談ください。試験計画案について作成し、ご提案いたします。（内容によっては弊社装置・技術でご提供できない場合もございます。あらかじめご了承ください。）

・　施設の空き状況は流動的です。希望内容・タイミングによっては試験をお待ちいただく場合もございます。

最短10日

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詳細・スペック

【装置情報】

★　走査電子顕微鏡（SEM-EDS　日本電子製 JSM-IT100)


【提供分析のポイント】

★　走査電子顕微鏡（SEM-EDS）による表面形状観察・元素マッピング解析です。
★　20000倍程度まで拡大観察が可能
★　観察領域の元素組成の定性、定量分析および元素マッピングが可能
★　金属・電気部品、食品・医薬品等の材質確認、異物・不良解析に使用可能
★　ご希望によりFTIR、EDXなどを組み合わせた検査も実施可能


【検査手順】

１、（ご依頼者さま・弊社）試験内容に関する情報共有と試験設計
２、（ご依頼者さま）観察サンプルのご送付
３、（弊社）検査品表面の形状を確認　（複数倍率で撮影）
４、（弊社）検査品表面の元素組成を確認　（試験目的に応じた組成解析）
５、（弊社）撮影写真等のご報告

用途例

★　異物の表面観察・元素マッピング解析
★　不良製品の表明形状確認　（金属粉の形態観察と材質の判別など）