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実験委託
群馬県

【異物・不良解析】走査電子顕微鏡(SEM-EDS)による表面形状観察・元素マッピング解析

【異物・不良解析】走査電子顕微鏡(SEM-EDS)による表面形状観察・元素マッピング解析の画像1
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Ic equipment price 目安単価:

¥25,000 /案件 

※別途、サービス料がかかります。
※取引条件によって、料金が変わります。

  • Ic equipment spec 概要:走査電子顕微鏡(SEM-EDS)による表面形状観察・元素マッピング解析
  • #表面形状観察 #元素マッピング解析 #異物解析 #食品 #医薬品 #環境 #走査電子顕微鏡 #SEM-EDS

    詳細・スペック

    詳細・スペック

    【装置情報】

    ★ 走査電子顕微鏡(SEM-EDS 日本電子製 JSM-IT100)


    【提供分析のポイント】

    ★ 走査電子顕微鏡(SEM-EDS)による表面形状観察・元素マッピング解析です。
    ★ 20000倍程度まで拡大観察が可能
    ★ 観察領域の元素組成の定性、定量分析および元素マッピングが可能
    ★ 金属・電気部品、食品・医薬品等の材質確認、異物・不良解析に使用可能
    ★ ご希望によりFTIR、EDXなどを組み合わせた検査も実施可能


    【検査手順】

    1、(ご依頼者さま・弊社)試験内容に関する情報共有と試験設計
    2、(ご依頼者さま)観察サンプルのご送付
    3、(弊社)検査品表面の形状を確認 (複数倍率で撮影)
    4、(弊社)検査品表面の元素組成を確認 (試験目的に応じた組成解析)
    5、(弊社)撮影写真等のご報告
    用途例
    ★ 異物の表面観察・元素マッピング解析
    ★ 不良製品の表明形状確認 (金属粉の形態観察と材質の判別など)
    納期目安
    最短10日
    備考
    ・ まずは希望試験内容についてご相談ください。試験計画案について作成し、ご提案いたします。(内容によっては弊社装置・技術でご提供できない場合もございます。あらかじめご了承ください。)

    ・ 施設の空き状況は流動的です。希望内容・タイミングによっては試験をお待ちいただく場合もございます。

    【異物・不良解析】走査電子顕微鏡(SEM-EDS)による表面形状観察・元素マッピング解析

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