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ウルトラミクロトーム：　UC7

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ウルトラミクロトーム：　UC7

ウルトラミクロトーム：　UC7の画像1

Ic equipment model number

型番：ライカ　 UC7

Ic equipment spec

概要：厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製することが出来ます。

詳細・スペック

おすすめポイント: ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製することが出来ます。一方、SEMあるいはAFM観察で必要な高い面精度の断面作製にも活用できます。
実験設備: ウルトラミクロトーム

ライカ　 UC7
可能な実験例: 超薄切片の作製

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