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【神奈川】SPM-E-sweep 走査型プローブ顕微鏡 (環境制御型SPM)

【神奈川】SPM-E-sweep 走査型プローブ顕微鏡 (環境制御型SPM)の画像1
  • Ic equipment model number 型番:E-sweep
  • Ic equipment spec 概要:接触または非接触(DFMのみ)により微小形状を測定することができる測定器です。 測定環境を真空に引いたり、加熱、冷却することがでます。 また、特殊なプローブを用意することにより、摩擦力や磁気マップなどを測定可能です。
  • #AFM #DFM #MFM #FFM

    詳細・スペック

    利用可能時間
    備考
    平日 9:30~16:30(年末年始や臨時休業を除く)
    ・立会料 : 1,500\/1時間あたり
    (立会とは、装置操作方法説明などのサポートです。必要な場合に選択ください。)
    プローブ : 光てこ 3,500\/1本(参考価格,センター在庫品融通)
           光てこプローブは、利用者所有品の持ち込み利用可能です。

    ・MFM測定には専用プローブが必要です(常備なし)。
    ユーザー登録限定コンテンツ
    無料登録で料金など全ての情報を閲覧可能
    実験設備
    SPM-E-sweep 走査型プローブ顕微鏡 (環境制御型SPM)
    その他の設備
    駐車場/Wi-Fi
    詳細・スペック
    XY150㎛ステージ(Z5㎛)またはXY20㎛ステージ(Z1.5㎛)をセレクト。
    分解能 : 水平0.2nm、垂直0.01nm
    資料サイズ : 最大φ25mm
          厚み10mm未満
    加熱 : R.T~300℃
    冷却 : -120℃ (Best effort)
    可能な実験例
    ・微細加工の実態状況や不良分析
    ・化合物の状態分析/評価
    ・微小形状測定、表面粗さ測定
    など
    用途例
    ・室温、大気圧下での形状測定
    ・接触または非接触測定

    測定チャンバー内を真空に引いたり、試料台を冷却、加熱して測定することが可能です。

    Ic equipment price 目安単価:

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    • サービス料には、システム利用料金および損害賠償保険が含まれます。
    • 取引条件によって、料金が変わります。
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    • ラボや取引条件に関するご質問からご対応します
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