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(161-162)

  • 機器訪問利用FIB/SEM デュアルビームシステム

    location_on宮城県

    Thumb c39f656e a873 4048 887c 835c777e87cc

    型番:Helios NanoLabTM 600i

    ナノスケールの微細加工、観察、分析、透過電子顕微鏡用試料作製ができる。 ...

    ・ FIB加工過程をSEMにてリアルタイムで観察可能。
    ・ TEM試料作製及びアトムプローブ試料作製が可能。
    ・ 自動機能にて、FIBスライス加工。
    ・ 同一視野での、SEM画像取得(EBSD,EDS測定含む...

    ¥19,239 /時間

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  • 機器訪問利用全自動水平型多目的X線回折装置

    location_on宮城県

    Thumb d65a72a2 c3ea 4e63 b267 7591803df0ab

    型番:リガク SmartLab 3G

    薄膜試料、粉末試料、バルク試料の定量分析、構造評価ができる。

    ・X線発生部:最大定格出力:3kW , ターゲット(Cu,Co)
    ・ゴニオメータ部:試料水平配置型θ-θゴニオメータ
    ・試料台回転アタッチメント(ナイフエッジ付):β軸±360° スピン速度1~120rpm 
    ...

    ¥5,655 /時間

    詳細を見る

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