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Ic pin 神奈川県

走査型電子顕微鏡(SEM)JSM-7001F

走査型電子顕微鏡(SEM)JSM-7001Fの画像1
  • Ic equipment model number 型番:日本電子 JSM-7001F
  • Ic equipment spec 概要:形態観察、元素分析、結晶方位解析
  • 詳細・スペック

    おすすめポイント
    本装置は、インレンズサーマル電界放出形電子銃を装備した走査型電子顕微鏡です。低加速電圧時でも効率よく電流が得られるため、高分解能観察が可能です。二次電子検出器以外に反射電子検出器を備えており、試料表面の形状観察だけでなく、試料組成に関する情報も得られます。EDS、EBSDが付帯しており、元素分析や微小構造解析が行えます。
    利用可能時間
    備考
    平日9:30~16:30
    詳細はお問合せください。
    会員限定コンテンツ
    無料登録で料金など全ての情報を閲覧可能
    実験設備
    ●概略仕様
    加速電圧:0.5~30 kV
    電子銃:ショットキー型
    対物レンズ:アウトレンズ型
    検出器:二次電子検出器、反射電子検出器
    試料サイズ:(運用上)最大Φ26mm×H15mm

    ●メーカー仕様
    保証分解能:1.2nm(30kV)、3.0nm(1kV)
    倍率:x 10~x 1,000,000
    加速電圧:0.5kV~30 kV
    試料照射電流:数pA~200 nA
    電子銃:インレンズサーマルFEG
    電子銃軸合わせ:完全自動(機械式調整不要)
    対物レンズ:スーパーコニカルレンズ
    対物レンズ絞り:クリックストップ式4段切り換え
    検出器:二次電子検出器、反射電子検出器
    ジェントルビーム:組込み
    試料室:最大200mm径試料対応大形試料室。試料高さは15mm程度まで
    試料ステージ:大型ユーセントリック試料ステージ
    デジタル画像:1,280 x 960、2,560 x 1,920、5,120 x 3,840(画素)
    マルチライブ像:組込み
    排気系:SIPx 2、DP x 2、RP x 1
    その他の設備
    付帯設備:EDS、EBSD
    可能な実験例
    形態観察、元素分析、結晶方位解析

    Ic equipment price 目安単価:

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    • サービス料には、システム利用料金および損害賠償保険が含まれます。
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