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産学連携

単結晶用X線回折測定による試料の構造解析

単結晶用X線回折測定による試料の構造解析の画像1
  • Ic equipment spec 概要:結晶中の原子や分子の精密な立体構造を知ることができる装置です。化学、材料化学、天然物化学、薬学、金属学や鉱物学の様々な分野において重要な結晶構造について精密な情報が得られます。100から300ケルビンまでの広い温度範囲で測定が可能です。構造解析についても相談に応じます。
  • #X線回折 #結晶構造解析

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