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単結晶用X線回折測定による試料の構造解析

単結晶用X線回折測定による試料の構造解析の画像1
  • Ic equipment spec 概要：結晶中の原子や分子の精密な立体構造を知ることができる装置です。化学、材料化学、天然物化学、薬学、金属学や鉱物学の様々な分野において重要な結晶構造について精密な情報が得られます。100から300ケルビンまでの広い温度範囲で測定が可能です。構造解析についても相談に応じます。
    • #X線回折 #結晶構造解析

    詳細・スペック

    おすすめポイント
    試験方法の要望対応可能
    試験計画の立案可能
    契約形態
    備考
    受託研究契約
    単結晶用X線回折測定による試料の構造解析
    粉末X線回折測定による結晶性粉体試料の構造推定や結晶子サイズの同定
    メスバウアー分光による鉄化合物の試料推定、酸化状態、電子状態の同定など
    走査電子顕微鏡（SEM-EDS）による表面形状観察・元素マッピング解析
    ESRによる試料分析
    表面積・細孔分布測定装置
    NMRによる試料分析
    固体拡散反射スペクトルによる試料分析
    FT-IRによる試料分析
    レーザーRamanによる試料分析と物性測定
    TG-DTAによる物質の熱重量分析（融解・昇華・分解、酸化反応、相転移など）
    DSCによる物質の熱量分析（融解・昇華・分解、酸化反応、相転移など）
    CVによる物質の電気化学（酸化還元反応）測定
    発光光度計による物質の発光スペクトル解析
    電気炉による物質の焼成（セラミックスの合成）など
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    用途例
    有機、無機分子問わず、単結晶試料全般の基礎から応用研究

    Ic equipment price 目安単価：

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