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粉末X線回折測定による結晶性粉体試料の構造推定や結晶子サイズの同定

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  • Ic equipment spec 概要:主な利用法は定性分析(同定)で、既知試料の回折パターンと照合することで測定試料の同定を行います。その他にも、ピークの有無や強度による結晶性や配向評価、ピーク幅による結晶子サイズを評価可能です。試料の回収が可能です。
  • #粉末X線回折 #XRD #結晶構造解析

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