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粉末X線回折装置による測定(X線回折プロファイル測定、結晶相候補探索)

粉末X線回折装置による測定(X線回折プロファイル測定、結晶相候補探索)の画像1
  • Ic equipment spec 概要:X線回折により、粉末または平面固体試料の結晶相の同定や構造解析を行います。またデータベースとの照合により、試料中の成分(結晶相)の同定が可能です。
  • #X線回折 #結晶相 #同定 #構造解析

    詳細・スペック

    契約形態
    備考
    納期目安
    その他
    受託研究契約
    他にも、【沖縄】様々な測定や解析が可能な大学のラボ(産学連携先)
    に設置のある機器については実験委託が可能です。
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