委託
産学連携

粉末X線回折装置による測定(X線回折プロファイル測定、結晶相候補探索)

概要

X線回折により、粉末または平面固体試料の結晶相の同定や構造解析を行います。またデータベースとの照合により、試料中の成分(結晶相)の同定が可能です。
#X線回折 #結晶相 #同定 #構造解析

詳細・スペック

契約形態
備考
納期目安

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