粉末状固体試料のBET、ラングミュア比表面積、および細孔分布と細孔容積を計測する装置です。本装置では、比表面積と細孔分布を窒素ガスの物理的な吸着・脱離における等温線データから求めます。その他のガス吸着も可能です。
試験方法の要望対応可能
試験計画の立案可能
ゼオライト、活性炭、配位高分子(金属錯体)などの多孔性試料の基礎と応用研究
液体または固体試料を一定の速度で加熱しながら、その重量を連続的に測定する技術です。試料の重量変化と温度の関係から、分解、酸化、還元、昇華、吸着・脱着、相転移などの反応に関する情報が得られます。測定温度範囲は室温から1000℃程度です。窒素ガス雰囲気下での測定も可能です
試験方法の要望対応可能
試験計画の立案可能
高分子、有機物、無機物、金属錯体、薬品などの熱重量分析。ただし、発火性および爆発性のある試料の測定は不可。
液体または固体試料を一定の速度で加熱しながら、その熱容量(比熱)を連続的に測定する技術です。試料の熱容量変化と温度の関係から、分解、酸化、還元、昇華、吸着・脱着、相転移などの反応に関する情報が得られます。測定温度範囲は-150から500℃程度です。窒素ガス雰囲気下での測定も可能です。
試験方法の要望対応可能
試験計画の立案可能
高分子、有機物、無機物、金属錯体、薬品などの熱容量分析。ただし、発火性および爆発性のある試料の測定は不可。
ナノエレクトロニクス、ナノマテリアル合成、微細加工、デバイス作製や、最先端機器を利用した計測を行うことができます。スーパークリーンルーム、バイオ系実験用クリーンルームを完備し、最先端機器であるTEMやEB描画装置等の装置を多数完備し、合成からバイオ実験までを一気通貫で行うことができます。
・機器の持ち込み可能
・廃液処理対応も可能
・委託実験については要相談
・技術指導については要相談
・居室有
・最先端機器(TEM、SEM)や、デバイス作製用クリーンルーム、バイオ実験室完備
・ナノエレクトロニクス材料作製・評価
・DNA、細胞培養、たんぱく質の解析、形態観察
・ナノカーボン材料合成、評価(フラーレン、カーボンナノチューブ、ナノグラファイト、グラフェン)
・バイオ、ナノ融合研究
・バイオセンサ開発
・マイクロ流路作製
・電子デバイス作製
・電子線描画装置によるレジストパーターン作製
・FIBを利用したTEM用薄膜作製
・コバルト内包カーボンナノアニオンのTEM像と制限視野回折観察
・空中配線された量子ドットを有するナノ電子デバイスのSEM観察
・デオキシリボ核酸(DNA)のAFM観察
・CMCマグネティックナノ粒子のFT-IR分析
・単層CNTのラマンマッピング
・量子ドットの励起蛍光すペクトル(NIR-PLE)
・XPSによるグラフェン構造の評価
・オージェ電子分光による酸化グラフェンの薄膜依存性
・飛行時間型二次イオン質量分析装置によるSiとO元素の深さ方向分布
・超電導材料の磁気特性(SQUID/VSM)測定
・硫酸銅のTG-DTA曲線
・カーボン材料の窒素ガス吸脱等温線(比表面積細孔分布計測)
・核およびアクチンフィラメントを蛍光染色した食道がん細胞の共焦点レーザー顕微鏡観察
・アポトーシスを起こしたJurket Cellsの蛍光染(セルソータ)
・ポリイプシロンカプロラクトンのMALDI-TOF-MSによる構造解析