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検索結果:産学連携カテゴリ「表面分析」(4件)

    • 委託
      産学連携

    走査電子顕微鏡(SEM-EDS)による表面形状観察・元素マッピング解析

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    10000倍程度まで拡大可能な電子顕微鏡(SEM)で、表面形状観察を行います。元素組成の定性・定量分析(EDX)が可能で、金属・電気部品、食品・医薬品などの材料確認や異物・不良解析に利用可能です。

    用途例

    薄膜・金属等の材料研究、細胞や組織などの生物サンプルの解析など

    • Ic pin 東京都
    • レンタルラボ
      産学連携

    【東京】化学分析装置を完備した学校のラボ(産学連携先)

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    XRDやGC-MS、ESCAなどの分析装置を多数そろえたラボです。

    ラボ駐車場利用可能
    ※ラボのご都合により、2024年1月以降の利用にてご相談が可能です

    可能な実験例

    ・化学分析
    ・表面分析
    ・定性、定量分析

    • Ic pin 埼玉県
    • レンタルラボ
      産学連携

    【埼玉】大学のナノバイオ実験施設。質量分析等装置完備(産学連携先)

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    ナノエレクトロニクス、ナノマテリアル合成、微細加工、デバイス作製や、最先端機器を利用した計測を行うことができます。スーパークリーンルーム、バイオ系実験用クリーンルームを完備し、最先端機器であるTEMやEB描画装置等の装置を多数完備し、合成からバイオ実験までを一気通貫で行うことができます。

    ・機器の持ち込み可能
    ・廃液処理対応も可能
    ・委託実験については要相談
    ・技術指導については要相談
    ・居室有
    ・最先端機器(TEM、SEM)や、デバイス作製用クリーンルーム、バイオ実験室完備

    可能な実験例

    ・ナノエレクトロニクス材料作製・評価
    ・DNA、細胞培養、たんぱく質の解析、形態観察
    ・ナノカーボン材料合成、評価(フラーレン、カーボンナノチューブ、ナノグラファイト、グラフェン)
    ・バイオ、ナノ融合研究

    用途例

    ・バイオセンサ開発
    ・マイクロ流路作製
    ・電子デバイス作製
    ・電子線描画装置によるレジストパーターン作製
    ・FIBを利用したTEM用薄膜作製
    ・コバルト内包カーボンナノアニオンのTEM像と制限視野回折観察
    ・空中配線された量子ドットを有するナノ電子デバイスのSEM観察
    ・デオキシリボ核酸(DNA)のAFM観察
    ・CMCマグネティックナノ粒子のFT-IR分析
    ・単層CNTのラマンマッピング
    ・量子ドットの励起蛍光すペクトル(NIR-PLE)
    ・XPSによるグラフェン構造の評価
    ・オージェ電子分光による酸化グラフェンの薄膜依存性
    ・飛行時間型二次イオン質量分析装置によるSiとO元素の深さ方向分布
    ・超電導材料の磁気特性(SQUID/VSM)測定
    ・硫酸銅のTG-DTA曲線
    ・カーボン材料の窒素ガス吸脱等温線(比表面積細孔分布計測)
    ・核およびアクチンフィラメントを蛍光染色した食道がん細胞の共焦点レーザー顕微鏡観察
    ・アポトーシスを起こしたJurket Cellsの蛍光染(セルソータ)
    ・ポリイプシロンカプロラクトンのMALDI-TOF-MSによる構造解析

    • 委託
      産学連携

    光電子分光による分析

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    表面数nmに存在する元素 (Li~U)に対し、定性・定量分析、および、化学結合状態分析ができます

    用途例

    表面分析

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