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標準物質なしで、固体および液体中のF~Uまでの元素の定性分析・半定量分析が可能
X線解析・撮影・照射
元素分析
走査電子顕微鏡(SEM-EDS)による表面形状観察・元素マッピング解析
★ 異物の表面観察・元素マッピング解析
★ 不良製品の表明形状確認 (金属粉の形態観察と材質の判別など)
走査電子顕微鏡(SEM-EDS)による表面形状観察・元素マッピング解析
★ 異物の表面観察・元素マッピング解析
★ 不良製品の表明形状確認 (金属粉の形態観察と材質の判別など)