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10000倍程度まで拡大可能な電子顕微鏡（SEM）で、表面形状観察を行います。元素組成の定性・定量分析（EDX）が可能で、金属・電気部品、食品・医薬品などの材料確認や異物・不良解析に利用可能です。

走査電子顕微鏡（SEM-EDS）による表面形状観察・元素マッピング解析

次世代シークエンサーから出力される膨大なデータの解析に対応した統合配列解析ソフトウェアです。 最先端の解析アルゴリズムと高速なゲノムアセンブル・マッピングツール、豊富なグラフィカル機能や多彩な出力オプションを搭載し、ユーザーフレンドリーかつ直感的なインターフェイスで稼働します。