X線回折により、粉末または平面固体試料の結晶相の同定や構造解析を行います。またデータベースとの照合により、試料中の成分（結晶相）の同定が可能です。
主な利用法は定性分析（同定）で、既知試料の回折パターンと照合することで測定試料の同定を行います。その他にも、ピークの有無や強度による結晶性や配向評価、ピーク幅による結晶子サイズを評価可能です。試料の回収が可能です。
試験方法の要望対応可能
試験計画の立案可能
岩石、粘土鉱物の分析、樹脂中の無機物質の分析、腐食生成物や固体異物の分析、セラミックスや固体無機材料の研究など
