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検索結果：委託カテゴリ「X線構造解析」（1件）

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単結晶X線構造解析装置による結晶構造解析(測定のみ、測定及び構造解析)

CCD：X線回折により微小の単結晶試料（1mm以下）から化合物構造を測定します。金属から有機化合物まで広範囲の試料が測定できます。結晶構造決定のファーストチョイスです。 IP：X線回折により化合物の構造を測定します。銅線源を用いるため、天然物化学分野などで、有機化合物の絶対構造を明らかにする場...
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