検索結果：機器訪問利用カテゴリ「フラグメント解析」（1件）
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東京都
機器訪問利用
飛行時間型二次イオン質量分析法（TOF-SIMS：Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)は、固体試料にイオンビーム（一次イオン）を照射し、表面から放出されるイオン（二次イオン）を、その飛行時間差（飛行時間は重さの平方根に比例）を利用して質...
可能な実験例
・表面の欠陥
試料表面の微細な欠陥を非破壊的に検査することができます。
・3次元イメージング
固体試料中の任意の成分の3次元イメージングを行い、汚染成分やその分布を知ることができます。
・生体成分の検出
生体に由来する無機・有機成分を検出し、マッピングすることが可能です。
・有機物による汚染の確認
試料のマススぺクトルのフラグメント解析により、有機化合物による汚染を確認することができます。
・粒子表面の測定
粉末粒子表面の塗装などの解析を行うことができます。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
