東京都
飛行時間型二次イオン質量分析法（TOF-SIMS：Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)は、固体試料にイオンビーム（一次イオン）を照射し、表面から放出されるイオン（二次イオン）を、その飛行時間差（飛行時間は重さの平方根に比例）を利用して質...
※組織により上記実験ができない場合がございます。
東京都
分子構造の決定、物質の同定を行う装置です。
※組織により上記実験ができない場合がございます。
