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飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS:Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)は、固体試料にイオンビーム(一次イオン)を照射し、表面から放出されるイオン(二次イオン)を、その飛行時間差(飛行時間は重さの平方根に比例)を利用して質...
※組織により上記実験ができない場合がございます。
分子構造の決定、物質の同定を行う装置です。
※組織により上記実験ができない場合がございます。