地域

検索結果：機器訪問利用カテゴリ「粉体」（3件）

- 千葉県
画像解析式粒径分布測定装置

自動画像解析による粒子特性評価装置

可能な実験例

試料ステージとして、メンブランフィルターホルダー、プレパラートホルダー、液体セル（スペーサー250μm）、自動分散ユニットを備えています。

用途例

・砂の粒子形状評価
・液体中固形物除去のためのフィルター選定
もっと見る
検討リストに追加

詳細を確認する
- 東京都
蛍光X線分析装置（XRF）

Ｘ線を試料に照射した時に発生する蛍光Ｘ線のエネルギーや強度から、物質の成分元素や構成比率を分析できる装置です。

可能な実験例

○合金めっき膜圧の測定
合金めっきをした試料材料を測定し各成分のスペクトルを分析することによって密度、付着量、膜厚を求めることができます。

○基板の電極部周辺の面分析
基板の電極部分を測定し元素マッピングすることによって金属の分布を知ることができます。

○岩石の成分分析
岩石粉体状に砕き測定することで岩石に含まれる成分の種類と量などを分析することができます

○廃液の成分分析
廃液を液体のまま測定することによって、液中に含まれる成分や量などを分析することができます。

※組織により上記実験ができない場合がございます。
もっと見る
検討リストに追加

詳細を確認する
- 東京都
赤外分光光度計（FT-IR）

分子構造の決定、物質の同定を行う装置です。

可能な実験例

〇異物の同定
既知物質の赤外吸収スペクトルと比較することで、異物の同定ができます。

〇有機物の構造解析
赤外吸収スペクトルから、結合度や官能基の有無、シス-トランス異性などの構造を調べることができます。

〇品質管理
基準となる赤外吸収スペクトルと比較することで、測定対象の品質が要求仕様を満たしているかを調べることができます。

〇トランス脂肪酸含有量の測定
全反射法を用いることで、食品に含まれるトランス脂肪酸の含有量を調べることができます。

※組織により上記実験ができない場合がございます。
もっと見る
検討リストに追加

詳細を確認する

検索結果：機器訪問利用カテゴリ「粉体」（3件）

画像解析式粒径分布測定装置

可能な実験例

用途例

蛍光X線分析装置（XRF）

可能な実験例

○合金めっき膜圧の測定

○基板の電極部周辺の面分析

○岩石の成分分析

○廃液の成分分析

赤外分光光度計（FT-IR）

可能な実験例

〇異物の同定

〇有機物の構造解析

〇品質管理

〇トランス脂肪酸含有量の測定