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検索結果：機器訪問利用カテゴリ「薄膜測定」（1件）

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【神奈川】XRD 多目的X線回折装置

半導体及び金属材料などの結晶構造・欠陥構造・歪みなどを解析する装置。反射率、膜厚・配向、小角散乱による粒径/空孔分布などの測定ができます。製品や材料の品質・性能確認、不良解析などに利用できます。

可能な実験例

・薄膜の反射率測定
・薄膜膜厚測定
・液体含有物の粒径測定
・ゲルの空孔分布
・BB法
・PB法
・Inplane測定
など

用途例

・残留応力測定
・結晶成分分析
など
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