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検索結果:機器訪問利用カテゴリ「表示」(2件)

    • Ic pin 岡山県
    • 機器訪問利用

    次世代シークエンス解析用ソフトウェア CLC Genomics Workbench

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    次世代シークエンサーから出力される膨大なデータの解析に対応した統合配列解析ソフトウェアです。 最先端の解析アルゴリズムと高速なゲノムアセンブル・マッピングツール、豊富なグラフィカル機能や多彩な出力オプションを搭載し、ユーザーフレンドリーかつ直感的なインターフェイスで稼働します。

    可能な実験例

    ・変異解析
    ・発現量解析
    ・エピジェネティクス解析
    ・新規ゲノム配列解析

    用途例

    ・正常部と腫瘍部を比較し、腫瘍特異的な変異を同定する。
    ・分化過程での発現量の違いを比較する
    ・微生物のゲノム配列を同定する
    ・転写因子の結合部位を同定する

    • Ic pin 茨城県
    • 機器訪問利用

    走査型電子顕微鏡(SEM)

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    電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子(後方散乱電子、BSE)、透過電子、X線、カソードルミネッセンス(蛍光)、内部起電力等を検出する事で対象を観察出来る装置です。

    可能な実験例

    〇レジストのパターン形成の観察

    露光、現像後の半導体のパターンを観察することができます。

    〇複合材料(樹脂)の断面の観察

    フィラーや強化繊維などを樹脂に分散させた際に、断面観察により分散状態を観察することができます。

    〇電極断面の観察

    LEDの金属電極断面について、低加速電圧で反射電子像を観察することにより、金属薄膜の結晶の状態を観察することができます。

    〇金属材料の破損原因の分析

    金属材料が破損した際に、原因を分析する1つの手段として、破断面の状態を観察し、原因を分析することができます。

    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

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