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検索結果:機器訪問利用カテゴリ「透過」(15件)

    • Ic pin 東京都
    • 機器訪問利用

    GC(ガスクロマトグラフィー)

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    気体および液体の成分分析を行います。

    可能な実験例

    ○食品のにおい成分の分析

    食品の香気成分として炭化水素類、アルコール類、エステル類などがあり、標準試料、検量線を用いて分析することによって、定性、定量ができます。

    ○分離膜の透過実験

    透過側と供給側の液の組成を測定することによって分離係数を算出することができます。

    ○樹脂の解析

    熱分解させた樹脂を測定することで骨格構造、末端基情報を得ることができます。

    ○高分子材料に含まれる添加成分の分析

    溶媒抽出などの前処理で得られた抽出液を分析し、酸化防止剤などの添加剤や残存溶媒の定性、定量ができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • Ic pin 東京都
    • 機器訪問利用

    蛍光X線分析装置(XRF)

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    X線を試料に照射した時に発生する蛍光X線のエネルギーや強度から、物質の成分元素や構成比率を分析できる装置です。

    可能な実験例

    ○合金めっき膜圧の測定

    合金めっきをした試料材料を測定し各成分のスペクトルを分析することによって密度、付着量、膜厚を求めることができます。

    ○基板の電極部周辺の面分析

    基板の電極部分を測定し元素マッピングすることによって金属の分布を知ることができます。

    ○岩石の成分分析

    岩石粉体状に砕き測定することで岩石に含まれる成分の種類と量などを分析することができます

    ○廃液の成分分析

    廃液を液体のまま測定することによって、液中に含まれる成分や量などを分析することができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • Ic pin 東京都
    • 機器訪問利用

    赤外分光光度計(FT-IR)

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    分子構造の決定、物質の同定を行う装置です。

    可能な実験例

    〇異物の同定

    既知物質の赤外吸収スペクトルと比較することで、異物の同定ができます。

    〇有機物の構造解析

    赤外吸収スペクトルから、結合度や官能基の有無、シス-トランス異性などの構造を調べることができます。

    〇品質管理

    基準となる赤外吸収スペクトルと比較することで、測定対象の品質が要求仕様を満たしているかを調べることができます。

    〇トランス脂肪酸含有量の測定

    全反射法を用いることで、食品に含まれるトランス脂肪酸の含有量を調べることができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • Ic pin 茨城県
    • 機器訪問利用

    紫外可視分光光度計(UV-Vis)

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    紫外領域と可視領域の光の領域を用いて溶液の吸収スペクトルを測定し定量分析います。

    可能な実験例

    ◯物質の透過率の測定

    物質の透過を測定し、物質の量(濃度や膜厚)から透過率を算出することができます。

    ◯物質の反射率の測定

    試料ステージに反射測定用ユニットを設置することで、物質の反射率を測定することができます。

    ◯物質の吸光度、バンドギャップの算出

    物質の透過率、反射率から、物質の特定波長における吸光度が算出されます(透過測定が振り切っていない場合のみ)。またピークの立ち上がり波長からバンドギャップが算出されます。

    ◯物質のキャリアの確認

    物質がキャリアを持つ場合には、物質の透過スペクトルにおける概ね700nmから長波長側に吸収が見られます。

    ◯特定物質の定性、定量分析

    測定対象物質があらかじめわかっている場合は、吸収ピーク波長のシフトや濃度といった情報が得られます。

    〇その他

    偏光子をもちいることで、物質の光応答性に関する異方性の情報が得られます。配向結晶などに対して計測することで、結晶軸による光応答性の違いがわかります。

    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • Ic pin 茨城県
    • 機器訪問利用

    走査型電子顕微鏡(SEM)

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    電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子(後方散乱電子、BSE)、透過電子、X線、カソードルミネッセンス(蛍光)、内部起電力等を検出する事で対象を観察出来る装置です。

    可能な実験例

    〇レジストのパターン形成の観察

    露光、現像後の半導体のパターンを観察することができます。

    〇複合材料(樹脂)の断面の観察

    フィラーや強化繊維などを樹脂に分散させた際に、断面観察により分散状態を観察することができます。

    〇電極断面の観察

    LEDの金属電極断面について、低加速電圧で反射電子像を観察することにより、金属薄膜の結晶の状態を観察することができます。

    〇金属材料の破損原因の分析

    金属材料が破損した際に、原因を分析する1つの手段として、破断面の状態を観察し、原因を分析することができます。

    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

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