検索結果：機器訪問利用カテゴリ「電圧」（15件）

ISO10605 /IEC 61000-4-2準拠の静電気試験が実施可能
グランドプレーン付きシールドルームで行っていただきます。

ISO10605 /IEC 61000-4-2準拠の静電気試験
最終試験前のプリテスト検討用としてご使用ください。

ISO10605 /IEC 61000-4-2準拠の静電気試験
最終試験前のプリテスト検討用としてご使用ください。

・路面負荷、バッテリー状態、冷却水をコントロールし電気自動車の走行条件を台上で模擬しインバータ、モータの評価が可能

＜主性能（ダイナモ）＞
・ダイナモ：回転数±16000rpm, トルク±600Nm, 出力±
200kW

＜副性能（電源/温調装置）＞
・電源：電圧600V, 電流500A, 出力250kW
・温調装置：媒体LLC50%, 温度+20～+85℃, 流量3～40ℓ/min　
2系統(インバータ及びモータ独立温調可能)

構成設備・計測器
計測器(パワーメータ、電流、電圧センサ、オシロスコープ)は設備に付帯

事前準備
この設備は使用前に下記の準備が必要
・取り付け治具(設備側図面提供、治具制作メーカ紹介可)
・評価対象以外のモータ、インバータ(治具として)
　(評価対象がモータならインバータ、インバータならモータ)

　・出力特性
　・効率(損失)測定
　・熱性能測定
　・制御性能確認　
　・耐久試験　等

・第2のラボとして！
・研究プロジェクトを始める前の予備実験などに！
・自社で行えないサイドプロジェクトを行う場としての使用

・インバータ、モータ及びシステム(モータ+インバータ)での各種機能、性能評価機能、性能評価

バッテリー評価(専用設備）
リチウムイオン電池への充電/放電時の電流・電圧状態を再現し、電池の入出力性能や容量特性などを評価する装置

＜副性能（恒温槽）＞
恒温槽サイズ(mm)　：W600×D850×H800
恒温槽温度範囲(℃)　：-40～100

・リチウムイオン電池の入出力性能試験
・リチウムイオン電池の性能劣化試験
・電池特性取得試験　電池容量
・電池特性取得試験　SOC-OCV
・電池特性取得試験　電圧特性
・電池特性取得試験　温度特性

・第2のラボとして！
・研究プロジェクトを始める前の予備実験などに！
・自社で行えないサイドプロジェクトを行う場としての使用

・上記の試験の他に独自の充放電プログラムを作成して試験試験することが可能です

＜副性能（恒温槽）＞
恒温槽サイズ(mm)　W600×D800×H850
恒温槽温度範囲(℃)　-40～100

・リチウムイオン電池の入出力性能試験
・リチウムイオン電池の性能劣化試験
・電池特性取得試験　電池容量
・電池特性取得試験　SOC-OCV
・電池特性取得試験　電圧特性
・電池特性取得試験　温度特性

・第2のラボとして！
・研究プロジェクトを始める前の予備実験などに！
・自社で行えないサイドプロジェクトを行う場としての使用

・上記の試験の他に独自の充放電プログラムを作成して試験することが可能です

＜主性能（シミュレータ）＞
・シミュレータ：回転数0rpm,±450～15000rpm, 電流±
450Arms, 出力±150kW

＜副性能（電源/温調装置）＞
・電源：電圧700V, 電流500A, 出力200kW
・温調装置：媒体LLC50%, 温度+10～+90℃, 流量3～40ℓ/min　

構成設備・計測器
計測器(パワーメータ、電流、電圧センサ、オシロスコープ)は設備に付帯

事前準備
この設備は使用前に下記の準備が必要
・サンプル置き治具
・インバータ制御ツール

　・出力特性
　・効率(損失)測定
　・熱性能
　・耐久試験　等

・第2のラボとして！
・研究プロジェクトを始める前の予備実験などに！
・自社で行えないサイドプロジェクトを行う場としての使用

インバータの各種機能、性能評価

フローチャートに従いマウスをクリックするだけで簡単に操作できる走査型電子顕微鏡です。本装置は低加速電圧観察対応のため、通常のSEMに比べて非導電性試料でも試料最表面の微細な構造まで鮮明に観察することができます。

形態観察

本装置は、インレンズサーマル電界放出形電子銃を装備した走査型電子顕微鏡です。低加速電圧時でも効率よく電流が得られるため、高分解能観察が可能です。二次電子検出器以外に反射電子検出器を備えており、試料表面の形状観察だけでなく、試料組成に関する情報も得られます。EDS、EBSDが付帯しており、元素分析や微小構造解析が行えます。

形態観察、元素分析、結晶方位解析

本装置は、冷陰極電界放出形電子銃を装備した走査型電子顕微鏡です。

セミインレンズタイプでUpper/Lowerの2つの検出器を搭載しており二次電子、反射電子の同時観察やリターディング機能により低照射電圧超高分解能観察が可能です。

形態観察、元素分析

本装置は、全自動水平型多目的X線回折装置(XRD)です。

粉末、バルク、薄膜など多様なニーズに対応し、ガイダンス機能を持ったアプリケーションにより最適な測定条件で分析が行えます。また専用の解析アプリケーションにより定性分析、定量分析、結晶化度、配向度、結晶子サイズ分布、膜厚、残留応力など様々な解析が可能です。

・粉末、バルクの定性分析、定量分析（2θ/θ測定）
・薄膜試料の定性分析（2θ（斜入射）測定、インプレーン測定）
・結晶方位分布や配向性の分析（極点測定、ロッキングカーブ測定）
・結晶化度の分析（2θ/θ測定）
・粉末、バルクの高温での相変態、格子定数変化（温度制御2θ/θ測定）
・加工材料の残留応力分析
・単結晶基板とエピタキシャル薄膜の結晶方位関係、格子定数の解析（逆格子マップ測定）

粉末、バルク、薄膜の結晶構造解析

電子顕微鏡は、光の代わりに電子（電子線）をあてて拡大する顕微鏡のことです。観察物質の構造や構成成分の違いにより電子線の透過能が異なるので、場所による透過電子の密度の違いを透過顕微鏡像として得ます。透過型電子顕微鏡では、極薄い試料を用いますが、数十万倍にも拡大した像を得ることができます。さらに、原子の周期的な配列に対応した回折現象を利用して、電子回折像が得られます。これは、物質（試料）の性質、特に結晶構造や格子欠陥に関わる重要な情報です。

形態観察、結晶構造解析、元素分析