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検索結果:機器訪問利用カテゴリ「非接触」(4件)

    • Ic pin 茨城県
    • 機器訪問利用

    エリプソメーター

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    物質表面での光の入反射光の偏光状態の変化を測定し、薄膜の厚さ、屈折率や吸収係数などの光学定数、または、バルク材の光学定数を解析することができる装置です。非接触・非破壊にて測定が行えます。(http://www.5lab.co.jp/products_MARY.htm)

    • Ic pin 茨城県
    • 機器訪問利用

    レーザー顕微鏡

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    観察対象物に対して前処理が一切不要で、そのままの状態での観察・測定が可能です。観察視野全てに焦点が合った超深度画像での観察が可能で、短波長レーザと白色光源を併用することで、高解像度と色情報を両立した高精細リアルカラー超深度画像での観察が可能です。非接触なので様々な対象物に対応するうえ、観察視野...

    可能な実験例

    ○半導体の測定

    デバイスの性能を左右する静電ミラーアレイ用電極基盤の3次元形状測定や、透明なマイクロレンズでも、表面の僅かな反射率を検出できるので測定可能です。

    ○電子部品の評価

    フレキシブル基盤のコネクタ部分のラッチ部の形状や、接続時の状態を正確に測定できるので、電子機器の信頼性を評価することができます。

    ○機能性素材の測定

    塗料や粘着テープのように粘性があるもの、繊維などの軟性があるもの、ゴムなどのように弾性があるものでも非接触での表面測定が可能です。

    ○細胞内物質の挙動観察(医学・生理学用)

    一つの細胞内物質が刺激を受けた時に、他の細胞内物質がどう挙動するかを観察することができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    【神奈川】SPM-E-sweep 走査型プローブ顕微鏡 (環境制御型SPM)

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    接触または非接触(DFMのみ)により微小形状を測定することができる測定器です。 測定環境を真空に引いたり、加熱、冷却することがでます。 また、特殊なプローブを用意することにより、摩擦力や磁気マップなどを測定可能です。

    可能な実験例

    ・微細加工の実態状況や不良分析
    ・化合物の状態分析/評価
    ・微小形状測定、表面粗さ測定
    など

    用途例

    ・室温、大気圧下での形状測定
    ・接触または非接触測定

    測定チャンバー内を真空に引いたり、試料台を冷却、加熱して測定することが可能です。

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    【神奈川】SPM-Nanocute 走査型プローブ顕微鏡 (汎用型SPM)

    Thumb aaf188fe b43d 4b63 8996 bfd508a19ba9

    接触または非接触(DFMのみ)により微小形状を測定することができる測定器です。

    可能な実験例

    ・微細加工の実態状況や不良分析
    ・化合物の状態分析/評価
    微小形状測定、表面粗さ測定
    など

    用途例

    ・室温、大気圧下での形状測定
    ・接触または非接触測定

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