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検索結果:機器訪問利用カテゴリ「AFM観察」(1件)

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    ウルトラミクロトーム: UC7

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    厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製することが出来ます。

    ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製することが出来ます。一方、SEMあるいはAFM観察で必要な高い面精度の断面作製にも活用できます。

    可能な実験例

    超薄切片の作製

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