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厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製することが出来ます。
ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製することが出来ます。一方、SEMあるいはAFM観察で必要な高い面精度の断面作製にも活用できます。
超薄切片の作製