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検索結果:機器訪問利用カテゴリ「DFM」(3件)

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    走査プローブ顕微鏡(SPM・AFM)

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    物質の表面をなぞるように動かして表面の微細な形状や性質を観察できる顕微鏡

    走査プローブ顕微鏡(SPM、AFM)は、先端の尖った探針を用いて、物質の表面をなぞるように動かして表面の微細な形状や性質を観察できる顕微鏡の一種です。光学顕微鏡や電子顕微鏡と異なり、ビームやレンズを使用しませんが、一定の条件と試料に対して原子・分子レベルの分解能を持ち、透過型電子顕微鏡に並ぶ拡大能力を持ちます。

    可能な実験例

    表面形状測定、表面物性測定

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    【神奈川】SPM-E-sweep 走査型プローブ顕微鏡 (環境制御型SPM)

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    接触または非接触(DFMのみ)により微小形状を測定することができる測定器です。 測定環境を真空に引いたり、加熱、冷却することがでます。 また、特殊なプローブを用意することにより、摩擦力や磁気マップなどを測定可能です。

    可能な実験例

    ・微細加工の実態状況や不良分析
    ・化合物の状態分析/評価
    ・微小形状測定、表面粗さ測定
    など

    用途例

    ・室温、大気圧下での形状測定
    ・接触または非接触測定

    測定チャンバー内を真空に引いたり、試料台を冷却、加熱して測定することが可能です。

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    【神奈川】SPM-Nanocute 走査型プローブ顕微鏡 (汎用型SPM)

    Thumb aaf188fe b43d 4b63 8996 bfd508a19ba9

    接触または非接触(DFMのみ)により微小形状を測定することができる測定器です。

    可能な実験例

    ・微細加工の実態状況や不良分析
    ・化合物の状態分析/評価
    微小形状測定、表面粗さ測定
    など

    用途例

    ・室温、大気圧下での形状測定
    ・接触または非接触測定

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