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検索結果:機器訪問利用カテゴリ「EBSD」(2件)

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    走査型電子顕微鏡(SEM)JSM-7001F

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    形態観察、元素分析、結晶方位解析

    本装置は、インレンズサーマル電界放出形電子銃を装備した走査型電子顕微鏡です。低加速電圧時でも効率よく電流が得られるため、高分解能観察が可能です。二次電子検出器以外に反射電子検出器を備えており、試料表面の形状観察だけでなく、試料組成に関する情報も得られます。EDS、EBSDが付帯しており、元素分析や微小構造解析が行えます。

    可能な実験例

    形態観察、元素分析、結晶方位解析

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    【神奈川】FIB/SEM 集束イオンビーム付き走査型電子顕微鏡

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    電子顕微鏡として各種素材の表面を観察するだけでなく、集束イオンビームを使用して、半導体、金属素材などの各種材料の微細な表面加工を行うとともに、断面形状を観察することができます。 オプションとして、EDS(元素分析)、EBSD(結晶構造解析)を行うことができます。

    可能な実験例

    ・SEM画像観察
    ・サンプルの電子ビーム加工
    ・真空中での断面加工部観察とEDS元素分析
    ・EBSD結晶構造解析

    用途例

    ・表面観察
    ・表面加工

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