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検索結果:機器訪問利用カテゴリ「X線回折装置」(3件)

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    多目的X線回折装置SmartLab

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    粉末、バルク、薄膜の結晶構造解析

    本装置は、全自動水平型多目的X線回折装置(XRD)です。

    粉末、バルク、薄膜など多様なニーズに対応し、ガイダンス機能を持ったアプリケーションにより最適な測定条件で分析が行えます。また専用の解析アプリケーションにより定性分析、定量分析、結晶化度、配向度、結晶子サイズ分布、膜厚、残留応力など様々な解析が可能です。

    ・粉末、バルクの定性分析、定量分析(2θ/θ測定)
    ・薄膜試料の定性分析(2θ(斜入射)測定、インプレーン測定)
    ・結晶方位分布や配向性の分析(極点測定、ロッキングカーブ測定)
    ・結晶化度の分析(2θ/θ測定)
    ・粉末、バルクの高温での相変態、格子定数変化(温度制御2θ/θ測定)
    ・加工材料の残留応力分析
    ・単結晶基板とエピタキシャル薄膜の結晶方位関係、格子定数の解析(逆格子マップ測定)

    可能な実験例

    粉末、バルク、薄膜の結晶構造解析

    • Ic pin 茨城県
    • 機器訪問利用

    X線回折装置(XRD)

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    化合物の同定・定量分析や、結晶構造の解析を行うことができます。

    可能な実験例

    試料の定性・定量分析・相同定

    粉末X線回折法により得られた回折パターンを、既知物質の回折パターンと比較することで試料の定性・定量分析や相同定をすることができます。

    格子定数・イオン半径・原子座標位置の算出

    粉末X線回折法により得られた回折パターンのフィッテングを行うことで、試料の格子定数・イオン半径・原子座標位置を算出することができます。

    分子の三次元構造の決定

    単結晶X線回折法により得られた回折パターンから、分子の三次元構造を決定することができます。

    試料の格子歪・残留応力の測定

    X線回折法により得られた回折パターンから、ピーク位置のずれや幅を測定することで試料の格子歪・残留応力の算出をすることができます。

    結晶方位の測定

    試料に照射するX線の角度を変化させながら、任意の結晶方位の回折ピークを測定することで試料の結晶方位を測定することができます。

    結晶配向性の測定

    特定のピーク位置における回折強度分布を測定することで、結晶の配向性を測定することができます。


    ※組織により上記実験ができない場合がございます。

    • Ic pin 神奈川県
    • 機器訪問利用

    【神奈川】XRD 多目的X線回折装置

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    半導体及び金属材料などの結晶構造・欠陥構造・歪みなどを解析する装置。 反射率、膜厚・配向、小角散乱による粒径/空孔分布などの測定ができます。 製品や材料の品質・性能確認、不良解析などに利用できます。

    可能な実験例

    ・薄膜の反射率測定
    ・薄膜膜厚測定
    ・液体含有物の粒径測定
    ・ゲルの空孔分布
    ・BB法
    ・PB法
    ・Inplane測定
    など

    用途例

    ・残留応力測定
    ・結晶成分分析
    など

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