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電子顕微鏡による撮像・元素分析

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電子顕微鏡による撮像・元素分析

電子顕微鏡による撮像・元素分析の画像1

Ic equipment model number

型番：日本電子・JEM-ARM200F

Ic equipment spec

概要：EELS, EDSを付随したSTEM(分解能:0.08nm)による局所構造の観察

#電子顕微鏡 #透過 #走査 #原子分解能

詳細・スペック

詳細・スペック: 加速電圧 (80, 120, 200 kV)

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