長崎県
型番：日本電子・JEM-ARM200F
料金
￥9,000 〜 /サンプル
※別途、サービス料がかかります。
※取引条件によって、料金が変わります。
| 概要 | EELS, EDSを付随したSTEM(分解能:0.08nm)による局所構造の観察 |
|---|---|
| 詳細・スペック | 加速電圧 (80, 120, 200 kV) |
| 用途例 | 納期目安 | 最短7日 |
| 備考 | |
| キーワード | 電子顕微鏡 透過 走査 原子分解能 |
| 分野 | ナノ・マイクロ科学 材料化学 歯学 |
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接触または非接触(DFMのみ)により微小形状を測定することができる測定器です。
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