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  • 実験委託セルソーター

    location_on広島県

    Thumb 48459904 d442 419d bc18 bb8339e6c7ea

    型番：FACS Aria II 及び FACS Aria II SORP / Becton Dickinson

    細胞測定

    ●1個ずつ細胞を光や蛍光色素などを利用してリアルタイムに解析する（フローサイトメトリー）機能に加えて、細胞を分取するセルソート機能を持っています。本装置はデジタル化、自動化されたセルソーターで、操作性の高い細胞分取...

    価格は相談により決定

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  • 実験委託形状測定レーザー顕微鏡システム

    location_on北海道

    Thumb 315783e1 2036 487b 9d6c 4fa9a313c74d

    型番：VK-X200/ キーエンス

    表面形状測定

    ●簡単な操作で、試料表面の高解像度・超高深度観察や粗さ測定ができます。

    価格は相談により決定

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  • 実験委託ウルトラミクロトーム

    location_on北海道

    Thumb 5fe197d5 d9d3 44c5 814f 3c35763dd239

    型番：EM UC7i/ ライカ

    安定同位体イメージング用 薄片試料調製

    ●高品質な超薄切片、高い面精度の断面作製に活用できます。

    価格は相談により決定

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  • 実験委託高圧凍結装置

    location_on北海道

    Thumb 97d82067 ccfc 48d3 8fc6 fcda155d8541

    型番：EM HPM100/ ライカ

    安定同位体イメージング用 凍結試料調製

    ●試料を2100barに加圧し、直後に低温固定化します。この高圧により氷晶の発生や成長を抑え、試料の微細構造の損傷を防ぐことができます

    価格は相談により決定

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  • 実験委託凍結置換装置

    location_on北海道

    Thumb 43780c5c 4a98 4ee9 9392 a8c11b0e1006

    型番：EM AFS2/ ライカ

    安定同位体イメージング用 凍結置換・樹脂包埋試料調製

    ●各種凍結法により凍結固定された試料の凍結置換やPLT（progressive lowering of temperature；段階的低温包埋法）を行うことができます。

    価格は相談により決定

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  • 実験委託次世代同位体顕微鏡システム

    location_on北海道

    Thumb 2ff8f329 17cd 40c5 846b a7ca2cd5bdfe

    型番：IMS-1280HR / CAMECA

    安定同位体イメージング

    ●特に点分析において、超高感度質量分析が可能です。同施設の同位体顕微鏡システムよりも質量分解能が向上しています。

    価格は相談により決定

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  • 実験委託同位体顕微鏡システム

    location_on北海道

    Thumb 55ba0982 3437 4fce 93de f230a27f7f21

    型番：IMS-1270 / CAMECA

    安定同位体イメージング

    ●CAMECA社の超高質量分解能SIMS（Secondary Ionization Mass Spectrometer:二次イオン質量分析計）IMS-1270の技術を発展させ、物質中の同位元素の３次元分布をイメージ...

    価格は相談により決定

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  • 実験委託岩石物性（浸透率、孔隙率）測定

    location_on千葉県

    Thumb e97f6850 dd64 49c5 ad92 75f55f91ca3a

    型番：Corelab社製　UltraPerm-600、UltraPore-300、CMS-300

    岩石コアの浸透率、孔隙率を測定します

    ◎手法
    （浸透率）
    岩石サンプルに窒素（またはヘリウム）を流通させることで多孔質体中の流体の流れやすさを示す指標である浸透率をダルシー則に基づき計算します。
    （孔隙率）
    バルク体積が既知の岩石コアにヘリウム...

    ￥10,500 〜 /サンプル

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  • 実験委託蛍光寿命測定

    location_on長崎県

    Thumb 3d555e74 2466 4cca 814f eb2cd66ba5a5

    型番：Hamamatsu Photonics C11200

    ピコ～ナノ秒の蛍光寿命測定

    半導体レーザー: 378nm（パルス幅: 56ps）, 401nm（パルス幅：59ps） /

    ￥5,000 /サンプル

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  • 実験委託電子顕微鏡による撮像・元素分析

    location_on長崎県

    Thumb 8ca5982a 5713 4518 8658 5b8a614030ab

    型番：日本電子・JEM-ARM200F

    EELS, EDSを付随したSTEM(分解能:0.08nm)による局所構造の観察

    加速電圧 (80, 120, 200 kV)

    ￥9,000 〜 /サンプル

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