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電子顕微鏡による撮像・元素分析

電子顕微鏡による撮像・元素分析の画像1
  • Ic equipment model number 型番：日本電子・JEM-ARM200F
  • Ic equipment spec 概要：EELS, EDSを付随したSTEM(分解能:0.08nm)による局所構造の観察
    • #電子顕微鏡 #透過 #走査 #原子分解能

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