【神奈川】SEM 走査型電子顕微鏡

詳細・スペック

実験設備

SEM 走査型電子顕微鏡

その他の設備

駐車場/Wi-Fi

詳細・スペック

倍率 : ×20～1,000,000

分解能 : 1.2nm(30kV時)

オプション

EDS

CL

帯電防止コート装置

　・オスミウムコーター

　・カーボン蒸着装置

断面試料作製装置

可能な実験例

・SEM画像観察

・EDS元素分析

・CLカソードルミネッセンス解析

利用可能時間

備考

＃＃ ＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃

＃＃＃ ＃ ＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃

＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃

＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃

＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃

＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃＃

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